182. X-Ray tomography in material science /
المؤلف: José Baruchel, Jean-Yves Buffière, Éric Maire [et autres].
المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع: Materials-- Testing, Congresses.,Radiography, Industrial, Congresses.,Tomography, Congresses.,X-rays-- Industrial applications, Congresses.,Matériaux-- Essais, Congrès.,Radiographie industrielle, Congrès.,Rayons X-- Applications industrielles, Congrès.,Aluminium-- Structure.,Kongress,Materials-- Testing.,Matériaux-- Structure.,Radiography, Industrial.,Rayons X.,Röntgenspektralanalyse,Tomografie,Tomographie.,Tomography.,Werkstoffprüfung,X-rays-- Industrial applications.
رده :
TA417
.
25
.
X75
2000